用于微小缺陷檢測的光學(xué)在線檢測技術(shù)
玻璃基板能夠用于生產(chǎn)FPD顯示器、觸摸屏或TFT監(jiān)視器,這些產(chǎn)品都有一個共同點:它們代表了人與機器之間的界面。無論設(shè)備種類如何,客戶期望的是完美的觸感和外觀——無論是MP3播放器還是智能手機。對于玻璃制造商而言,這意味著持續(xù)確保最高的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn),以滿足客戶需求并參與全球競爭。憑借FlatPanelMaster生產(chǎn)線,ISRAVISION提供了下列解決方案:為實現(xiàn)100%監(jiān)控的基底制造過程提供靈活的全自動光學(xué)檢測技術(shù),從而實現(xiàn)最高的產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。
玻璃基板的生產(chǎn)分為若干復(fù)雜步驟,每一步驟僅占附加值的約5%。然而,生產(chǎn)過程中的每一階段都至關(guān)重要:每當(dāng)有缺陷的玻璃基板被傳遞到下一個過程,任何進一步的精整過程都將是徒勞的——最終產(chǎn)品也是如此。因此,從一開始直到產(chǎn)品鏈的末端,均需要具備一致和完整的檢測——這不僅僅是定性的需要,也是出于經(jīng)濟方面的考慮。
到目前為止,即使對于光學(xué)檢測系統(tǒng)而言,最小的材料厚度和微觀缺陷尺寸也是一項挑戰(zhàn)。憑借其FlatPanelMaster產(chǎn)品線,ISRA為高度可靠的玻璃基板無觸點在線檢測提供了完整的解決方案。該技術(shù)的核心是分辨率高達幾微米的線性掃描相機、創(chuàng)新的照明理念以及配備全面分析選項的軟件。此外,該產(chǎn)品線提供了四種組合模組,因此可提供貫穿整個生產(chǎn)過程的100%缺陷檢測,最高可兼容第11代薄板玻璃。
在玻璃基板的表面上,即使最小的顆粒聚集也會對下列電池板的生產(chǎn)過程產(chǎn)生不良影響。FlatPanelMaster–Particle是一種特殊的模組,適合在潔凈室中使用,能夠可靠地檢測微米大小的顆粒。它能夠確保只有毫無瑕疵的薄板玻璃能夠通過檢測,并傳遞至后續(xù)的鍍膜處理。所獲得的檢測數(shù)據(jù)為潔凈室中的顆粒密度大小提供了參考意見,并且能夠用于優(yōu)化初步的清潔程序。
FlatPanelMaster–Inspect模組專門用于檢測和分類玻璃缺陷(例如氣泡、劃痕、污點和夾雜物)。為滿足這一要求,它采用了創(chuàng)新的設(shè)置,將多個光學(xué)通道結(jié)合至單一傳感器內(nèi)。取得專利的在線Moiré技術(shù)可測量玻璃的光學(xué)折射,并幫助檢測缺陷,可靠性和精確度都達到很高的水平。采用快速和獨立切換的LED,可以實現(xiàn)不同的照明效果,而無需使用復(fù)雜的多角度照明布置。這一努力取得了成效:早期缺陷檢測避免了在生產(chǎn)過程末端產(chǎn)生廢料,從而降低了成本。
完美的邊緣對于薄板玻璃的尺寸精度至關(guān)重要,并使破損風(fēng)險最小化。FlatPanelMaster–Edge檢測模組采用多視圖技術(shù)(將近360度),以無可比擬的精度檢查玻璃基板邊緣,從而檢測包括裂痕、翹皮、燒痕和破損在內(nèi)的缺陷。緊湊的傳感器可以集成在一個固定的位置或可移動軸上,使系統(tǒng)靈活輕松適應(yīng)任何類型的玻璃傳輸設(shè)備。除了質(zhì)量文檔以外,檢測協(xié)議還提供磨削加工過程的優(yōu)化信息。所記錄的數(shù)據(jù)可供操作員定義砂輪和邊緣切割器的最佳置換時間,以使運行時間最大化。
FlatPanelMaster–Review模組的設(shè)計旨在用于生產(chǎn)線末端以及離線時對于選定缺陷的微觀分析。可以通過使用多個縮放因子選擇并放大相關(guān)缺陷。該軟件有助于找到造成缺陷的根源,并提供了對缺陷的重新分類以便重新劃分玻璃基板等級(視需要而定)。毫無疑問,玻璃制造商做出的是一項雙重的安全質(zhì)量決定。
高度精確的FlatPanelMaster所提供的無觸點檢測為玻璃基板的質(zhì)量改進提供了巨大的潛力,進而提高了成品顯示器的質(zhì)量。此外,根據(jù)統(tǒng)計數(shù)據(jù)準(zhǔn)備的檢測數(shù)據(jù)以及廣泛的分析功能確保了透明度,并有助于建立關(guān)于生產(chǎn)過程的知識,作為進一步優(yōu)化的依據(jù)。憑借這些知識可以對制造參數(shù)進行調(diào)整,從而提高了生產(chǎn)效率并降低了成本。
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通過FlatPanelMaster(FPM)產(chǎn)品線實現(xiàn)最高產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率
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(a:顆粒計數(shù)器,b:缺陷檢測,c:邊部檢測,d:復(fù)檢模塊)